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KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
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Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT
Bruker 探针式表面轮廓仪(台阶仪)-DektakXT一、概述布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计创新,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性
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KLA D-600 探针式轮廓仪
Alpha-Step D-600探针式轮廓仪支持台阶高度和粗糙度的2D及3D测量,以及翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。探针测量技术的
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KLA D-500 探针式轮廓仪
Alpha-Step D-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 创新的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。探针测量技术的一个优点是它是一种直接
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KLA-Tencor Profiler探针式台阶仪-台阶仪精度
仪器简介:应用: ◆薄膜厚度测量; ◆样品表面形貌测量; ◆薄膜应力测量; ◆样品表面粗糙度/波纹度测量; ◆样品表面三维形貌测量等。技术参数:KLA-Tencor先进的探针式台阶
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KLA 探针式台阶仪 P7-台阶仪原理
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P-170 台阶仪
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Dektak XTL探针式轮廓仪
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Alpha-Step D-600 台阶仪
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Alpha-Step D-500台阶仪
Alpha-Step D-500 Stylus Profiler Alpha-Step D-500探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支
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